顯微鏡資訊：檢驗(yàn)與質(zhì)量-樣品無損檢驗(yàn)-偏光顯微鏡

檢驗(yàn)與質(zhì)量-樣品無損檢驗(yàn)-偏光顯微鏡

檢驗(yàn)和控制方法檢驗(yàn)和質(zhì)量控制方法涉及材料和結(jié)構(gòu)的常規(guī)表征。熒光顯微鏡以紫外線為光源， 用以照射被檢物體， 使之發(fā)出熒光， 然后在顯微鏡下觀察物體的形狀及其所在位置。熒光顯微鏡用于研究細(xì)胞內(nèi)物質(zhì)的吸收、運(yùn)輸、化學(xué)物質(zhì)的分布及定位等。偏光顯微鏡用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。這種顯微鏡的載物臺是可以旋轉(zhuǎn)的，當(dāng)載物臺上放入單折射的物質(zhì)時，無論如何旋轉(zhuǎn)載物臺，由于兩個偏振片是垂直的，顯微鏡里看不到光線，而放入雙折射性物質(zhì)時，由于光線通過這類物質(zhì)時發(fā)生偏轉(zhuǎn)，因此旋轉(zhuǎn)載物臺便能檢測到這種物體。體視顯微鏡一臺儀器。指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。只要有代表性和意義，材料或結(jié)構(gòu)的任何性質(zhì)都可以利用。機(jī)械性能測試通常用于這些目的，但它們需要制備特殊的樣品，這些樣品將在測試中被破壞。至少樣品應(yīng)該代表正在制造的產(chǎn)品的特性，*好在實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上與它的使用性能聯(lián)系起來。這也是因?yàn)檫@些檢測是經(jīng)常做的，樣品的準(zhǔn)備會非常枯燥和昂貴。當(dāng)然，這適用于任何參數(shù)的“破壞性”測量。因此，無損檢測越來越受到重視。它不需要消耗樣本。有兩種*常見的NDI技術(shù)，即聲發(fā)射和超聲波，而其他技術(shù)包括一些基于熱分析、射線照相術(shù)和化學(xué)能光譜學(xué)的方法。從分析中得到的各種置信度的容許極限可以用控制圖的形式來表示。偏離預(yù)定的公差極限可以作為一種手段，合格的分類方法。對每個車廂簡單的分類\\u002Fnonconformity可以避免產(chǎn)品供應(yīng)商的尷尬和*終用戶的風(fēng)險，但這些方法都極其昂貴，因?yàn)閳髲U的產(chǎn)品有限，除非報廢的零件可以以某種方式重新使用。尚不清楚傳統(tǒng)的質(zhì)量控制方法能否用于提供反饋，從而影響甚至直接控制生產(chǎn)過程。但如果反饋只是基于通過\\u002Ffail準(zhǔn)則，根據(jù)解釋，只有在一個材料失敗后才能生效。換句話說，這個反饋是追溯性的。近年來，人們已經(jīng)注意到開發(fā)和利用能夠在制造過程中監(jiān)控質(zhì)量趨勢的方法，這些方法能夠在制造零件之前識別隱藏的廢料問題。由于工藝過程不斷受到影響，這些方法被稱為實(shí)際規(guī)?；蚪y(tǒng)計過程控制方法，而對于定時制造等正常方法非常重要的℃usum圖可以作為相對簡單系統(tǒng)的基礎(chǔ)。